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遗传学异常所致不育--基因芯片技术从分子水平查找不育病因 不孕不育问答
来源:北京天伦不孕不育医院 日期:2006-06-02关闭文章:遗传学异常所致不育--基因芯片技术从分子水平查找不育病因 的xml文档
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    据世界卫生组织统计,世界上有10%的夫妇患有不孕不育症,男性不育占其中一半左右。在男性不育中30%以上的患者是由于遗传学异常引起的,如染色体断裂、缺失、倒位、易位等。Y染色体微缺失是导致男性不育的主要遗传学因素。

    天伦不孕不育医院通过国际先进的分子生物学基因芯片技术,检查Y染色体是否有微缺失以及Y染色体断裂、易位、倒位等情况,以建议患者是否有必要进行睾丸穿刺和对女方进行促排卵,真正减少患者无谓的经济负担和各类并发症的发生。

    Y染色体微缺失可以从正常的带微缺失的精子传递下来,也可以通过正常精子受精后在胚胎发育过程中发生Y染色体的微缺失,另外,现代人工辅助生育技术也可能将带微缺失的Y染色体遗传下去。所以为保证后代健康,不管原因不明还是原因明确的男性不育症患者,均需进行Y染色体微缺失检测,特别是在实行卵细胞浆内单精子注射和其他人工辅助生殖治疗时必须做该项检查。

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